X-STRATA 960 荧光镀层厚度测量仪

X-Strata 960 X荧光射线测厚仪，可快速测定各种材料构成
 的多层镀层厚度。长寿命100瓦微焦点X射线管（其他测厚仪为50瓦）。比CMI900可以提高30%分析精度或者减少50%的分析时间，三种样品台可供选择:程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm;手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴;固定位置样品台，最大高度230 mm更小准直器,测量更小区域:最小直径15um圆形准直器，20x/80xCCD图像放大倍数自由距离测量DIM：更灵活地测量不规则样品（凹凸）,在12.5~102mm自由聚焦范围内可准确聚焦样品表面任意测量点。并有自动雷射聚焦功能 一体机工作站式设计，简化设备安装，减少占用 空间。

技术参数:

元素范围: Ti22 – U92同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体)；最多同时15种元素定量

 X射线激发:100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管
           （可选钼靶X射线管）
   X射线检测: Xe封气正比计数器，可最多装备3种二次
            滤光片
  准直器: 最多4种
  数字脉冲处理器:4096通道数字多道分析器,包含自动
                 波谱校正和Pulse Pile Rejection功能
   CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
  电源: 85-130V或者215-265V、频率47-63Hz
  工作环境:10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
  样品台移动量: 程控XYZ轴：300 x 200 x 230mm; 手
  动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴
  仪器尺寸:H744 x W686 x D813
  重量: 160公斤