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手持式孔内铜测厚仪
手持式孔内铜测厚仪
型号︰CMI500
品牌︰牛津仪器
原产地︰美国
单价︰CNY ¥ 100 / 件
最少订量︰1 件

 共有 20 相关信息  
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产品描述
 

第一台带温度补偿功能的测量孔内镀铜厚度的测厚仪CMI511是手持的电池供电的测厚仪。它能于侵蚀工序前、后,测量孔内镀层厚度。独特的设计使CMI500能够完全胜任对双层或多层电路板的测量,甚至可以穿透锡和锡/铅抗蚀层进行测量。

CMI511独有的温度补偿特性使其适用于在电镀过程中进行厚度测量,从而降低废料、返工成本。和我们的所有产品一样,CM511在售前和售后都能够得到牛津仪器的优质服务的保证。

 

技术参数

ETP孔铜探头测试技术参数:

可测试最小孔直径:35 mils (899 μm)

测量厚度范围:0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)

电涡流原理:遵守ASTM-E376-96标准的相关规定

 

准确度:±0.01 mil 

第一台带温度补偿功能的测量孔内镀铜厚度的测厚仪CMI511是手持的电池供电的测厚仪。它能于侵蚀工序前、后,测量孔内镀层厚度。独特的设计使CMI500能够完全胜任对双层或多层电路板的测量,甚至可以穿透锡和锡/铅抗蚀层进行测量。

CMI511独有的温度补偿特性使其适用于在电镀过程中进行厚度测量,从而降低废料、返工成本。和我们的所有产品一样,CM511在售前和售后都能够得到牛津仪器的优质服务的保证。

 

技术参数

ETP孔铜探头测试技术参数:

可测试最小孔直径:35 mils (899 μm)

测量厚度范围:0.08 – 4.0 mils (1 – 102 μm)

电涡流原理:遵守ASTM-E376-96标准的相关规定

 

准确度:±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)

精确度:1.2 mil(30μm)时,达到1.0% (实验室情况下)

分辨率:0.01 mils (0.1μm)



 

 (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)

精确度:1.2 mil(30μm)时,达到1.0% (实验室情况下)

分辨率:0.01 mils (0.1μm)

 

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手持式孔内铜测厚仪
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