X-STRATA 960 熒光鍍層厚度測量儀

X-Strata 960 X熒光射線測厚儀，可快速測定各種材料構成
 的多層鍍層厚度。長壽命100瓦微焦點X射線管（其他測厚儀為50瓦）。比CMI900可以提高30%分析精度或者減少50%的分析時間，三種樣品台可供選擇:程控XYZ軸:300 x 200 x 230mm;手動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸;固定位置樣品台，最大高度230 mm更小准直器,測量更小區域:最小直徑15um圓形准直器，20x/80xCCD圖像放大倍數自由距離測量DIM：更靈活地測量不規則樣品（凹凸）,在12.5~102mm自由聚焦範圍內可準確聚焦樣品表面任意測量點。並有自動雷射聚焦功能 一體機工作站式設計，簡化設備安裝，減少占用 空間。

技術參數:

元素範圍: Ti22 – U92同時分析層數和元素定量:5層(4層+基體)；最多同時15種元素定量

 X射線激發:100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管
           （可選鉬靶X射線管）
   X射線檢測: Xe封氣正比計數器，可最多裝備3種二次
            濾光片
  准直器: 最多4種
  數字脈衝處理器:4096通道數字多道分析器,包含自動
                 波譜校正和Pulse Pile Rejection功能
   CCD: 1/3” CCD 640 x 512 Pixel array, 500 line/inch
  電源: 85-130V或者215-265V、頻率47-63Hz
  工作環境:10－40℃、相對濕度小於98%，無冷凝水
  樣品台移動量: 程控XYZ軸：300 x 200 x 230mm; 手
  動XY軸：250 x 250mm＋230mm程控Z軸
  儀器尺寸:H744 x W686 x D813
  重量: 160公斤